直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定

发布日期:2019年12月10日
直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定 直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定 直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定

本内容试读结束

下载后可阅读完整内容,立即下载

直排四探针法测量硅片电阻率及不确定度评定

四探针电阻率测量仪广泛应用于半导体行业,是测量半导体材料电阻率的常用设备。本文针对不同样品测量时应注意的测量条件、适用的计算公式做了简要的说明,并对晶圆薄片的精密测量结果的不确定度评定做了比较详细的论述。



相关标签